Twórca:

Grubicka Joanna

Tagi:

reliability test, Weibull distribution, Laplace transforms, renewal process

Abstrakt:

It is no exaggeration to say that the PN-IEC 61124 standard is inapplicable in many branches e.g. electronic industry. It is because PN-IEC 61124 assumes failure rate to be constant in time. This paper rejects this assumption and presents mathematical foundation of an alternative of PN-IEC 61124 applicable in electronic industry.

Miejsce wydania:

Poznań

Wydawca:

OWN

Data akceptacji:

2010.06.17

Data złożenia:

2010.04.26

Data wydania:

2010.09.27

Data modyfikacji:

2010.06.16

Typ zasobu:

artykuł

Format:

application/pdf

Język:

eng